part(元器件)

產品中可以拆裝的*小可分辨項目，如分立半導體器件、電阻、集成電路、焊點和連接器等。

assembly(組件)

設計成可裝入某一單元并與類似或其它的組件一起工作，且由一定數量的元器件組成的組合件，如印制線路板組件、電源模塊和磁心存貯器模塊等。

unit(單元)

裝在機箱內的一些機箱自含元器件和(或)組件。它能完成一個特定功能或一組功能，并且可作為一個獨立的部分從系統中更換，如自動駕駛儀的計算機和甚高頻通訊設備的發射機。

equipment/system(設備或系統)

互連或組裝在一起后，能執行完整功能的若干單元的總稱，如飛行控制系統和通訊系統。

item(產品)

可以單獨考慮的任一組件、單元、設備或系統的統稱。

defect(缺陷)

產品中可能導致出現故障的固有或誘發的薄弱點。

patent defect(明顯缺陷)

用常規的檢查、功能測試和其它規定的方法，而不需用環境應力篩選可發現的缺陷。

latent defect(潛在缺陷)

用常規的檢查、功能測試和其它規定的方法不能發現的缺陷。其中一部分缺陷若不用環境應力篩選將其排除，則在使用環境中可能會以早期故障形式暴露出來。

escaped defect(漏篩缺陷)

引入缺陷中用篩選和檢測未曾發現，漏入到下一組裝等級的部分。

defect density(缺陷密度)

一組(批)產品中每個產品所含缺陷的平均數。缺陷密度可分為引入缺陷密度、漏篩缺陷密度、殘留缺陷密度和觀察到的殘留缺陷密度。

part fraction defective(元器件缺陷率)

以百萬分之一(ppm)為單位表示的一組元器件中有缺陷元器件所占的比例。

fallout(析出量)

在應力篩選期間或在應力篩選之后立即檢測到的故障數。

screenable latent defect(可篩選出的潛在缺陷)

現場使用中應判為是以早期故障形式析出的缺陷，定量篩選中可把故障率大于 的潛在缺陷作為要篩選出的潛在缺陷。

stress screening(應力篩選)

將機械應力、電應力和(或)熱應力施加到產品上，以使元器件和工藝方面的潛在缺陷以早期故障形式析出的過程。

screen parameter(篩選參數)

篩選度公式中的諸參數，如振動量值，溫度變化速率和持續時間等。

screening strength(篩選度)

產品中存在對某一特定篩選敏感的潛在缺陷時，該篩選將該缺陷以故障形式析出的概率。

test detection efficiency(檢測效率)

檢測充分程度的度量，它是由規定檢測程序發現的缺陷數與篩出的總缺陷數之比值。

test strength of screening(篩選檢出度)

用篩選和檢測將缺陷析出的概率，它是篩選度和檢測效率的乘積。

thermal survey(熱測定)

使受篩產品處于規定溫度下，并在產品內有關的部位測量其熱響應特性的過程。有關部位可以是熱慣性*大的部位，也可以是關鍵部位。

vibration survey(振動測定)

使受篩產品經受振動激勵，并在產品內有關部位測量其振動響應特性的過程。有關部位可以是預計響應*大部位，也可以是關鍵部位。

selection/placement of screening(篩選的選擇和安排)

系統地選擇*有效的應力篩選并把它安排在適當的組裝級上的過程。

yield(篩選成品率)

 經篩選交收時，設備內可篩選出的潛在缺陷為零的概率。